YAMABUN山文電氣測厚儀-微米級基準

YAMABUN山文電氣測厚儀-微米級基準

1）TOF-4R05（經典標準款）

分辨率 0.5μm，量程 0.03–3mm，薄膜 / 薄片通用。

恒壓探頭（0.6N）：壓力固定，不壓軟膜、不受人手感影響。

藍寶石測頭：耐磨、長期精度穩定、少維護。

自動測量、數據可存電腦，配雷達圖調吹塑膜均勻性。

適用：鋰電隔膜、光學膜、PVB、包裝膜、橡膠片。

2）TOF-4R05 HUD（高精密微調款）

在 4R05 基礎上增加微米級微調，適合超高精度管控。

讀數更細、重復性更好，用于光學 / 新能源材料。

3）TOF-6R001（超精密款）

分辨率 0.01μm，半導體 / 精密電子薄膜專用。

適合超薄、高精度要求的電子材料、晶圓涂層、極薄膠膜。

4）TOF-M（金屬板材專用）

鋼板、鋁板等金屬薄片專用，量程更大、剛性更強。

自動送料、重復性好，適合汽車 / 軌道交通金屬件。

二、離線非接觸電容式（TOF-C 系列）

5）TOF-C2（主流電容款）

非接觸測量：不損傷超薄軟膜（PET、PVC、鋰電隔膜）。

表面粗糙也能測，自動電位設定，操作簡單。

適合：光學膜、太陽能封裝膜、鋰電隔膜等高附加值薄膜。

6）TOF-C（經濟型電容款）

功能簡化、價格更低，實驗室 / 抽檢常用。

三、離線光學 / 分光干涉式（TOF-S 系列）

7）TOF-S（透明膜 / 多層膜專用）

分光干涉原理，測 1–150μm 透明膜，無損。

可測多層膜（如 ITO+AR 膜），能解析層結構。

溫漂極小、穩定性高，適合光學鍍膜、AR/AF 膜、PI 膜。

分辨率 ±0.01μm，光學行業。

四、在線接觸式測厚儀（TME/TSM/TSW 系列）

8）TME-RM（標準在線接觸）

薄膜 / 卷材連續在線測厚，精度高、響應快。

接觸式、穩定性好，適合中高速產線、常規薄膜。

9）TSM-RM（加強型在線接觸）

結構更強、抗振更好，適合厚膜 / 高速 / 重載產線。

10）TSW-E（寬幅 / 泡沫專用）

寬幅、發泡材料、泡沫板專用，量程大、壓頭適配軟質厚材。

五、在線激光非接觸測厚（NSM/NME 系列）

11）NSM-RM（標準激光在線）

激光非接觸，高速、無損傷，全幅掃描。

無需校準曲線、操作簡單，PP/PS/ 多層膜適用。

12）NSM-RMD（高精度激光款）

精度更高、抗干擾強，鋰電 / 光學膜高速產線常用。

13）NME-RM（經濟型激光在線）

成本低、基礎功能齊全，適合預算友好型在線改造。

六、YAMABUN 整機共同核心特點（通用賣點）

日本原裝、微米級精度：分辨率最高 0.01μm，行業優良。

恒壓 / 非接觸雙路線：軟膜不壓傷、硬膜測不準問題全覆蓋。

高耐磨探頭：藍寶石 / 硬質合金，長期免校準、維護成本低。

強抗環境干擾：溫漂小、抗振、防塵，車間長期穩定。

數據化 + 聯網：自動記錄、USB/RS485，可對接 MES，可追溯。

覆蓋全流程：實驗室離線 → 中試 → 量產在線，一站式方案。

行業適配廣：鋰電、光學、包裝、汽車、半導體、新能源全覆蓋。